能量色散荧光光谱仪

背景：

有害物质限用指令(英語: Restriction of Hazardous    SubstancesDirective      2002/95/EC缩写RoHS),    是2006年7月1日施行的关于所有在欧盟市场 上出售的电子电气设备必须禁止"铅汞、镉、六价铬、 PBB   (多溴联苯)、PBDE    (多溴联 苯醚)"这6种物质的指令。

EDX8000    是专门针对ROHS/   无卤检测、EN71   等环保指令设计的一款光谱仪。

EDX8000     是一款快速，准确且经济高效的XRF 荧光光谱分析仪，已用于分析各种金 属塑料及电子材料中的铅 (Pb),   镉 (Cd),    砷 (As),   汞  (Hg),   铬  (Cr)  和其他有 毒有害元素。它提供的元素检测下限(通常2ppm)   完全满足RoHS  法规对于材料中元素限 制的含量标准。 

产品特点：

无损检测，快速分析，结果可靠操作简单明了。将测试样品直接放仪器分析测试窗口上，或者将其放置在厂家提供的  专用样品杯中(如果很小),通过内置高清摄像头调整样品测量位置后，关闭样品腔上盖。 操作员按“开始”,一键测试即可在三分钟内获取测量结果。内置的高清摄像头还可以使样 品的图像和测 试结果以报告格式直接存储或发送到打印机打印。

产品优势：

1、  —键式自动测试，使用更简单，更方便，即使非技术人员也能快速上手；

2、  采用美国AmpTek    最新型Si-pin/SDD      探测器，电制冷技术，体积小、数据分析准确 且维护成本低；

3 、  采用自主研发的探测器信号增强处理系统，提高信噪比达到实验室级别最低1 ppm   检出限；

X-Ray Spectra of Certified Reference Materials

(下图展示了塑料中98ppm 和 8 0 8ppm 溴元 素Br 的光谱对比图。红色为808ppm   Br,蓝 色为98ppm 溴。光谱图是XRF 光谱仪可以  迅速测试的数据分析基础);

4、  八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换 。最小0 .2mm 准直器可以用于样品微点测试，检测光斑更小，射线能量更集中内置高清CCD摄像头，能清晰地显示仪器所检测的样品部位；

 5、  采用7位滤光片自动切换系统，不同滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖；

6、 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品最高级；

7、  先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，提高核心部件使用寿命 ；

8、  独有的机芯温控技术，保证X 射线源的安全可靠运行，降低使用成本；

9、  可定制化报告，可以自由设定元素检测限，软件自动标示超标元素 (Fail/Pass);

10、多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控，让仪器工作更稳定、更安全

11、优 化 了CI,Cr    等元素的检测，大大提高了低含量Cl 和Cr 元素的测试灵敏度和稳定性,为用户的无卤分析提供了更精准的检测方法；

12、可拓展应用：镀层厚度分析，八大重金属分析，合金成分分析：

升级款：

为了满足客户日益更为严苛的测试需求，特别是对微量痕量元素测试灵敏度和稳定性的 更高标准，我们全新开发了升级版EDX8000B    ---RoHS     符合性XRF 检测光谱仪。相 较于基础版本的Si-pin    硅针检测器，EDX8000B  装备了最高端的SDD  硅漂移检测器。更  高的样品X 光能量数据通量，更好的光谱分辨率，使得检测性能提高了2-3倍。

EDX8000B 的优

· 更快---由于单位时间内可以获得更高样品信号通量，使得测量时间大幅减少。100秒即可 达到普通版本仪器200秒的测量效果；

· 更准---独特的多道分析器DPP 可实现超过100,000 cps 的线性计数速率而同时保证最优 的光谱分辨率，通常优于130 eV  (普通Si-pin 探测器为160eV),  以更好地分离不同元 素的光谱。同时，强大的基于Windows   的FP  (基本参数算法)软件降低了基体元素间吸  收增强效应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的  水平；

· 更稳---使用超大面积25 mm2  铍 窗SDD 检测器(普通Si-pin   检测器6mm2),   该款检测器可 在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度(计数率CPS),       从而得到更好 的测试稳定性和长期重复性。与传统的Sipin    版本台式仪器相比，EDX8000B       光谱仪可以 全功率运行，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现；

典型测试性能对比 (EDX8000 对比EDX8000B)